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HOME > Optics > 직립형 현미경

생물현미경과는 달리 빛을 투과하지 않는 시료의 관찰을 위하여 고안된 반사조명장치가 기본으로 장착된 현미경으로 철강,알미늄등의 금속재료의 조직이나 대면적 시료의 Micro Pattern, 표면상태를 관찰하기 위한 현미경입니다.

Silicon wafer등과 같이 flat한 대면적시료의 Micro Pattren 이나 표면상태의 검사용 으로 사용되는 고배율용 광학현미경입니다.

모델명 최대이송거리 관찰배율 특징
LV100D 150*100mm 50-1500배 투과/반사겸용
LV150 / LV150A 150*150mm 50-1500배 6" Wafer전용
L200ND 205*205mm 50-1500배 8" Wafer전용
L200ND 205*205mm 50-1500배 투과/반사겸용
L200A 205*205mm 50-1500배 자동형
L300N / L300ND 354*302mm 15-2000배 300mm Wafer 전용
관찰모드 반사조명: BF, DF, POL, DIC, FL(투과조명 : BF, POL)
부속장치 사진촬영장치, 이미징시스템 외 다수

 

 LV100D

 

  제품특징 : PDF파일 : 다운로드
  6" Wafer 검사가 가능한 Compact Design
  반사/투과 조명 현미경
  PCB, LCD, Film 등 매우 다양한 목적으로 관찰
  반사/투과 변환 스위치와 6X4 (150 x100mm) Stage는 PCB, LCD
  관찰에 최적의 환경 제공
  Dark Field 관찰 시 기존 제품보다 3배 밝은 시야와 Contrast를 구현

       LV100D 제품이미지
 

 

 LV150 / LV150A

 

  제품특징 : PDF파일 : 다운로드
  6" Wafer 검사가 가능한 Compact Design
  반사 조명 전용 현미경
  자동화된 Nosepiece로 인한 Wafer의 오염 방지
  다양한 관찰모드 (Brightfield, Darkfield, DIC, Fluorescence, Simple Polarizing)
  소프트웨어에 의한 자동 Nosepiece 변경(L150A)
  더욱 길어진 Working Distance와 높은 N.A값으로 선명한 Image 구현

       LV150 / LV150A 제품이미지
 
       
그림 2번 => L150A, Conventional Microscope

 

 L200N / L200ND

 

  제품특징 : PDF파일 : 다운로드
  세계 최고 성능의 Image를 보여주는 CFI60 렌즈 사용
  최대 이송 거리 205mm*205mm, 8" Wafer 검사 전용 현미경
  60mm Working Distance와 높은 N.A값으로 선명한 Image 구현
  저배율에서도 얼룩이 적은 미분 간섭상을 실현하는 Nomarski Prism 장착
  검사 표준화에 의한 오차 감소

       L200N / L200ND 제품이미지
 

 

 L200A

 

  제품특징 : PDF파일 : 다운로드
  세계 최고 성능의 Image를 보여주는 CFI60 렌즈 사용
  소프트웨어에 의한 조리개 조절, B.F/D.F 변환, Nosepiece 회전, 조명,초점, DIC
   모드의 자동화
  동일한 Sample 관찰 시 PC에 저장된 Program으로 전과 같은 조건에서 Sample 관찰
  더욱더 선명해진 Dark Filed Image 구현
  타 모델에 비해 3배 강한 진동 방지 시스템

       L200A 제품이미지
 

 

 L300N / L300ND

 

  제품특징 : PDF파일 : 다운로드 L300N L300ND L200N L200ND.pdf
  세계 최고 성능의 Image를 보여주는 CFI60 렌즈 사용
  12" FPD, 300mm Wafer의 효율적인 검사를 실현
  60mm Working Distance와 높은 N.A값으로 선명한 Image 구현
  Dark Field 관찰 시 기존 제품보다 3배 밝은 시야와 Contrast를 구현
  검사 표준화에 의한 오차 감소

       L300N / L300ND 제품이미지